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超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

1.  MX-3手持式超声波测厚仪是一种可以信赖的厚度测量仪器，无需特别培训即可操作。将探头放到被测工件的表面就可从单边测出材料的厚度，或是沿被测材料的表面移动探头，找出被测材料的最薄点。可以选用各种特殊用途的探头，探头的用途及参数如表所示。
2.  MX-5测厚仪除具有MX-3的全部功能外，还增加了以下功能：  报警功能：如果测量值小于用户输入的最小允许值，红灯亮并有BB的报警声提示，绿灯亮表示测量值在允许的范围内。差值方式：显示测量值与预先设定值的差值。  RS232接口：输出数据到计算机或打印机。
3.  MX-5DL测厚仪在MX-5测厚仪的基础上增加了数据存储功能，可存储1000个测量数据。

超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播

原理：超声波测量厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

测厚仪mx-5原理;是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。